Систематическое исследование чувствительности поверхностных сдвигов пикселей на спутниковых снимках высокого пространственного разрешения. В результате атмосферной рефракции в датчике к поверхностному пути лучей

Предлагаемая аннотация для данной книги: Книга представляет собой систематическое исследование чувствительности поверхностных сдвигов пикселей на спутниковых снимках высокого пространственного разрешения в результате атмосферной рефракции. Ошибки, возникающие в результате неправильного учета атмосферных эффектов рефракции, могут достигать нескольких метров в пространственно зарегистрированных изображениях. Автор исследует возможность использования моделей трассировки лучей, разработанных для расчета атмосферных пропусканий и излучений, для моделирования смещения пикселей в результате атмосферной рефракции на спутниковых снимках. Результаты исследования позволяют достичь более точной пространственной регистрации спутниковых изображений высокого пространственного разрешения. Книга будет полезна специалистам в области обработки и анализа спутниковых изображений, а также всем, кто интересуется проблемами удаленного зондирования Земли.