Функциональные наноматериалы с заданными свойствами, технологии их создания и методики диагностики являются наиболее наукоемкими и перспективными направлениями современного материаловедения. С фундаментальной точки зрения большой интерес представляет исследование электронной и атомной структур наноматериалов, а также выявление закономерностей взаимосвязи их структурных характеристик и физико-химических свойств, которые в большинстве случаев отличны от свойств объемных материалов. С прикладной точки зрения – изучение их физических характеристик, позволяющих определить область возможных применений создаваемых наноматериалов.
Особенное место среди наноматериалов занимают нанокомпозиты. В частности, в последние десятилетия активно синтезируются и исследуются нанокомпозиты на основе оксидов 3d-переходных металлов с различными типами матриц. Для нанокомпозитов такого вида может быть реализована возможность адаптации их физико-химических свойств в зависимости от параметров и условий синтеза, которые определяют состав, морфологию и структуру составляющих компонент. Необычные физико-химические свойства таких композитов делают их привлекательными с точки зрения применения в различных устройствах, таких как солнечные батареи, газовые сенсоры, катализаторы, суперконденсаторы, микросистемы полного аналитического контроля, преобразователи излучения и многих других. Это связано с тем, что нанокомпозиты с таким составом обладают рядом улучшенных характеристик в сравнении с чисто металлоксидными материалами. Например, более высокой газочувствительностью, термической, электрической, оптической и магнитной активностью. Исследование влияния параметров синтеза на морфологию поверхности нанокомпозита, его атомную и электронную структуру в комплексе с определением его физических характеристик в дальнейшем позволяет получить необходимую информацию для синтеза материалов с заданными свойствами.
При изучении особенностей атомной и электронной структуры материалов высокой информативностью обладают экспериментальные рентгеновские методы, в том числе и с использованием синхротронного излучения, такие как методы рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (международный термин X-ray Photoelecton Spectroscopy, XPS), рентгеновской дифракции (международный термин X-ray diffraction, XRD), рентгенофлуоресцентного анализа (международный термин X-ray яuorescence analysis, XRF), рентгеновской спектроскопии поглощения (X-ray absorption spectroscopy, XAS). При изучении морфологии поверхности нанокомпозитов и пленок на их основе одним из информативных методов является метод растровой (сканирующей) электронной микроскопии (международный термин Scanning Electron Microscopy, SEM), позволяющий получить изображение поверхности объекта с высоким разрешением, информацию о структуре, составе и строении приповерхностных слоев материалов. Следует отметить, что исследуемые материалы представляют собой сложные, многофазные системы. Наиболее интересным является вопрос о фазовом составе как нанокомпозита в целом, так и отдельных его структурных компонент, а также механизмах взаимодействия между ними. Однако ответить на него достаточно сложно даже при использовании нескольких взаимодополняющих методов диагностики.